电子束控制线圈磁场检测系统及其检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种电子束控制线圈磁场检测系统及其检测方法，所述检测系统包括无磁光学平台、电子束控制线圈、设置于所述无磁光学平台上的多维电控位移模块、受所述多维电控位移模块驱动在所述电子束控制线圈产生的磁场内移动的磁场测量传感器以及与所述磁场测量传感器通讯连接的测试控制器，检测系统利用磁场测量设备和自动化电控位移系统，结合主控模块，对不同形状区域进行自动化磁场扫描，得出较为全面的磁场测量数据和磁场空间分布图。
基本信息
专利标题 ：
电子束控制线圈磁场检测系统及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624636A
申请号 ：
CN202011460582.3
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
成成张帆高学林贾子朝郭志伟
申请人 ：
核工业理化工程研究院
申请人地址 ：
天津市河东区津塘路168号
代理机构 ：
天津创智睿诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
李薇
优先权 ：
CN202011460582.3
主分类号 ：
G01R33/07
IPC分类号 ：
G01R33/07 G01R33/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/06
采用电磁器件
G01R33/07
霍耳效应器件
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
