本发明公开了一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：获取若干级判定物料组；获取判定物料组的每一判定物料的测量值；将每一测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一判定物料的单点偏差率；根据每一判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；若第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率；根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性。通过本发明的测量设备点检方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。