一种高功率毫米波输出窗测试及老炼装置及方法
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摘要
本发明提出了一种高功率毫米波输出窗测试及老炼装置,包括高功率毫米波源、吸收负载、反射光栅、介质窗片以及反射镜M1与反射镜M2,本发明利用金属反射光栅对以准高斯模式传播的高功率电磁波进行分束,提取一部分波束形成行波谐振环,通过调整行波谐振环使之工作于谐振状态,从而推算介质窗片的介电常数,同时利用行波谐振环的增益效果,实现在比微波源更高的等效功率条件下对介质窗片进行筛选和老炼。可直接在高功率条件下对实际使用的介质窗片或介电窗组件进行参数测量,测量结果更符合实际情况;能够实现合格窗片的筛选,剔除存在缺陷且无法改良的窗片;能够在比微波源输出功率更高的等效功率条件下对窗片进行老炼,提升窗片的功率容量。
基本信息
专利标题 :
一种高功率毫米波输出窗测试及老炼装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112763817A
申请号 :
CN202011499093.9
公开(公告)日 :
2021-05-07
申请日 :
2020-12-17
授权号 :
CN112763817B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
孙迪敏黄麒力胡林林马国武卓婷婷曾造金胡芯瑞胡鹏蒋艺
申请人 :
中国工程物理研究院应用电子学研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市游仙区919信箱1013分箱
代理机构 :
成都九鼎天元知识产权代理有限公司
代理人 :
孙杰
优先权 :
CN202011499093.9
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R27/26 G01N23/00 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-05-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20201217
申请日 : 20201217
2021-05-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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