一种晶体挑取工具
授权
摘要
本实用新型提供了一种晶体挑取工具，包括筛选组件、连接杆与握杆，所述筛选组件经所述连接杆与所述握杆相连接，所述筛选组件是在片材的一边开设有等腰梯形缺损口而形成筛选部位，且等腰梯形的下底与腰形成的锐角为75°~80°。本实用新型结构简单，工具体积较小，便于与尺寸较小的晶体接触且接触面积大，利于利用表面张力形成胶膜或油膜，将目标晶体从母液中分离并挑取至外部，提高工作效率，使用方便，且易于更换筛选组件，适于推广应用。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体挑取工具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020019193.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-06
授权号 ：
CN211478115U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
辛雪莲艾瑾
申请人 ：
河北大学
申请人地址 ：
河北省保定市五四东路180号河北大学
代理机构 ：
石家庄国域专利商标事务所有限公司
代理人 ：
黄慧慧
优先权 ：
CN202020019193.6
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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