一种杂散光测试装置
授权
摘要

本实用新型涉及光学领域,公开了一种杂散光测试装置,包括底板、透镜、显微设备和探测装置,所述底板上端右侧固定连接固定板,固定板上端固定连接显微设备,显微设备右侧固定连接探测装置,固定板上端固定连接有若干个支撑杆,支撑杆上端固定连接夹板,两侧所述夹板固定连接滑轴,滑轴左侧滑动连接第二导向筒,设置橡胶圈,可以将透镜与固定座和固定盖的刚性接触转化为弹性接触,防止透镜刮伤,影响测试数据,设置滑轴、第一导向筒和第二导向筒,可以对平行光管和透镜之间的距离进行调整,设置第一反射镜和第二反射镜,可以将光源转化为平行光源避免自然光源杂散性影响实验结果。本实用新型结构简单,使用方便快捷,在光学领域有可利用价值。

基本信息
专利标题 :
一种杂散光测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020023221.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-06
授权号 :
CN211205710U
授权日 :
2020-08-07
发明人 :
丁文江
申请人 :
上海研鼎信息技术有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区盈港东路8300弄6-7号1幢3层N区332室
代理机构 :
上海浙晟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨小双
优先权 :
CN202020023221.1
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2020-08-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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