IR-CUT三姿势检测治具
授权
摘要
本实用新型涉及一种IR‑CUT三姿势检测治具，包括支架、转动检测台，所述转动检测台后侧面中部安装有纵置的转轴，转轴安装在支架上，转轴周侧的上部、左侧、右侧、下侧均开设有定位销孔，支架上于转轴上方、左侧、右侧均安装有与定位销孔配合的弹簧销，所述转动检测台上安装有用于容置镜头的固定座，固定座上方安装有用于压固镜筒上端的压板，转动检测台上与固定座正上方安装红外线发送器，固定座中部镂空，压板上开设有通孔同轴心的入射孔，固定座中部下方安装有用于接收红外线的红外线接收器，本治具结构简单，设计合理，操作使用方便，能对IR‑CUT进行三姿势检测。
基本信息
专利标题 ：
IR-CUT三姿势检测治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020032676.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-08
授权号 ：
CN211477003U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
黄华辉史军波王国平李瑾
申请人 ：
深圳融合光学科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北一路15号聚友创业中心（凤凰城大厦）6楼
代理机构 ：
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 ：
陆帅
优先权 ：
CN202020032676.X
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
