电致发光器件测试系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种电致发光器件测试系统,用于对具有多个电致发光单元的电致发光器件进行测试,所述电致发光器件测试系统包括:供电单元,与所述电致发光单元电性连接并能够向所述电致发光单元提供发光电流;以及控制单元,与所述供电单元相连接,并能够控制所述供电单元向所述电致发光单元逐一提供发光电流。本实用新型所提供的电致发光器件测试系统,能够在与供电单元相连接的控制单元的控制下向电致发光单元逐一供电,相比较于依赖于人工操作向电致发光单元逐一供电的方式,不仅提高了测试效率,而且减少了人力投入。

基本信息
专利标题 :
电致发光器件测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020038527.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-08
授权号 :
CN211603440U
授权日 :
2020-09-29
发明人 :
张哲远迟鹏张昊翔孙玲
申请人 :
蔚海光学仪器(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区金都路1165弄123号23幢1号三楼
代理机构 :
上海立群专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨楷
优先权 :
CN202020038527.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01M11/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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