一种孔内键槽测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种孔内键槽测量装置，包括表头，所述表头与手柄连接，所述手柄的另一端与量块相连，所述量块内横向设置有两个测头，所述手柄内设置有测量杆，所述测量杆穿过所述量块伸入两个所述测头之间从而使得两个所述测头沿相反方向移动，所述量块的至少一个侧面为楔形面。
基本信息
专利标题 ：
一种孔内键槽测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020038560.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-09
授权号 ：
CN211346617U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
沃林尉志超
申请人 ：
苏州英示测量科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区向阳路80号
代理机构 ：
苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
金京
优先权 ：
CN202020038560.7
主分类号 ：
G01B5/02
IPC分类号 ：
G01B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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