一种孔类尺寸及形位综合检具
授权
摘要
本实用新型公开了一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体，其包括依次连接的光轴段、外螺纹段、过渡段和手柄段，光轴段与外螺纹段共轴线，光轴段的外径小于外螺纹段的大径。本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工件尺寸及形位误差检验使用，检具在准确检测连续阶梯孔尺寸的同时，检验了孔间的同轴度和圆度，实现了几何尺寸和形位误差的同步检测。
基本信息
专利标题 ：
一种孔类尺寸及形位综合检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020042112.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-09
授权号 ：
CN211120939U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
王斌殷红秋杨建华
申请人 ：
中核（天津）科技发展有限公司
申请人地址 ：
天津市河东区津塘路168号
代理机构 ：
天津市宗欣专利商标代理有限公司
代理人 ：
马倩
优先权 ：
CN202020042112.4
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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