基于导模共振的双条形介质光栅液体折射率变化检测装置
授权
摘要
本实用新型属于光学检测装置技术领域，具体涉及一种基于导模共振的双条形介质光栅液体折射率变化检测装置,所述检测装置的周期为P，包括：透明覆盖层，位于透明覆盖层下的第一导模光栅层，位于第一导模光栅层下的检测腔体层，位于检测腔体层下的第二导模光栅层以及位于第二导模光栅层下的基底层。本实用新型检测装置体积体积在微米数量级，非常适合应用于微小折射率变化传感，能检测到折射率变化非常微小的待检测样品，当样品的折射率发生细微变化时，两个透射峰的共振波长λ1与λ2发生移动，从而达到检测的效果以及提高检测的可靠性，折射率检测精度可以达到10‑3纳米量级。
基本信息
专利标题 ：
基于导模共振的双条形介质光栅液体折射率变化检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020058281.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-13
授权号 ：
CN211505212U
授权日 ：
2020-09-15
发明人 ：
李国锋韩云鑫杨俊波张振荣
申请人 ：
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址 ：
湖南省长沙市开福区德雅路109号
代理机构 ：
长沙中科启明知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
匡治兵
优先权 ：
CN202020058281.7
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2020-09-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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