一种集束导线测试设备
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摘要
本实用新型公开了一种集束导线测试设备，用于检测集束导线，包括机架和设于机架上检测机构，所述检测机构包括压紧组件和第一驱动件，所述第一驱动件的输出端还设有一检测接头，所述集束导线固定于所述压紧组件上并与所述检测接头电性连接。第一驱动件驱动检测接头靠近压紧组件，并且与压紧组件上集束导线形成电性连接，提高检测接头与集束导线连接的可靠性以及测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种集束导线测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020101822.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-17
授权号 ：
CN211718421U
授权日 ：
2020-10-20
发明人 ：
石锦华
申请人 ：
深圳市众恒世讯科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明办事处将石社区石围油麻岗工业区216号
代理机构 ：
深圳市博锐专利事务所
代理人 ：
汤星星
优先权 ：
CN202020101822.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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