薄壁自由曲面光学元件夹持变形的测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种薄壁自由曲面光学元件夹持变形的测量装置，包括工作架，所述工作架的内部安装有样品台、图像发生机构、激光发生机构、图像采集机构和升降机构；所述图像发生机构、所述激光发生机构和所述图像采集机构皆位于所述样品台的上方，所述样品台上安装有用于夹持薄壁自由曲面光学元件的夹持结构；所述夹持结构包括第一夹持部、第二夹持部、转轴和驱动所述转轴转动的驱动件，所述第一夹持部和所述第二夹持部分别与所述转轴铰接，所述第二夹持部与所述转轴之间设有复位弹性件。本实用新型其测量装置可适用于测试分析凹形曲面薄壁光学元件/凸形曲面薄壁光学元件的装夹方式和装夹载荷对光学元件面型和位置精度的影响。
基本信息
专利标题 ：
薄壁自由曲面光学元件夹持变形的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020108941.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-18
授权号 ：
CN211234313U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
万新军庄松林张书练谈宜东解树平张卓男
申请人 ：
上海理工大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区军工路516号
代理机构 ：
苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
周雅卿
优先权 ：
CN202020108941.8
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
