用于直接测定微量卤素的进样装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于直接测定微量卤素的进样装置。该进样装置包括反应单元和气液分离单元；反应单元包括一反应容器、反应管路、第一进样管以及第二进样管，所述反应管路与所述反应容器连通，反应容器具有一反应腔体；气液分离单元包括气液分离膜，气液分离膜设置在反应腔体的开口处，并完全覆盖反应腔体的开口。本实用新型提供进样装置可以预先将待测溶液中的卤素离子氧化为挥发性的卤素单质，进而实现对微量卤素的检测，且有效提高了对卤素的分析灵敏度，在测试行业具有非常广阔的应用价值。
基本信息
专利标题 ：
用于直接测定微量卤素的进样装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020115662.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-19
授权号 ：
CN211505227U
授权日 ：
2020-09-15
发明人 ：
柴小丽董亚萍李海军
申请人 ：
中国科学院青海盐湖研究所
申请人地址 ：
青海省西宁市新宁路18号
代理机构 ：
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
王茹
优先权 ：
CN202020115662.4
主分类号 ：
G01N21/73
IPC分类号 ：
G01N21/73
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/71
热激发的
G01N21/73
用等离子体喷嘴或吹管
法律状态
2020-09-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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