一种微焦斑光源参数测量透镜及测量系统
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摘要
本公开披露一种微焦斑光源参数测量透镜及测量系统，该系统包括：X射线聚焦镜，设置于待测量的X射线光源之后，并使所述X射线在其中进行单次全反射；X射线探测器，设置于所述X射线聚焦镜之后，配置有用于调节器件同轴的多维度调节架；所述X射线探测器用于探测经所述X射线聚焦镜全反射的X射线的能量；光束阻挡器，设置于所述X射线探测器之前，用于阻挡通过所述X射线聚焦镜的直通光；数据处理器，与所述X射线探测器连接，用于获取所述X射线探测器的测量数据，并结合测量系统的基础参数数据，调用预设的参数计算公式，计算得到微焦斑光源参数。通过实施本公开的技术方案，能够同时、并且准确地测量及计算得到光源焦斑和焦深。
基本信息
专利标题 ：
一种微焦斑光源参数测量透镜及测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020140785.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-21
授权号 ：
CN212410022U
授权日 ：
2021-01-26
发明人 ：
王亚冰孙天希邵尚坤孙学鹏
申请人 ：
北京师范大学
申请人地址 ：
北京市海淀区新街口外大街19号
代理机构 ：
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡丹
优先权 ：
CN202020140785.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G03B42/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-01-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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