一种长余辉发光测试装置

授权

摘要

本实用新型涉及一种长余辉发光测试装置，其包括，依次层叠的第一暗室、第二暗室以及第三暗室，第一暗室与第二暗室之间由第一隔板隔开，第二暗室与第三暗室之间由第二隔板隔开，第一隔板上设置有第一通光孔，第二隔板上设置有第二通光孔，第一通光孔与第二通光孔相对设置，样品架设置于第一暗室中的第一通光孔处；第二暗室中设置有激活光源、驱动部件、余辉测试位置以及余辉激活位置，驱动部件控制激活光源在余辉测试位置以及余辉激活位置之间移动；第三暗室中设置有检测器，检测器受光面正对第二通光孔位置。该装置结构简单，其简单紧凑的结构设置能够避免样品以及检测器位置移动不重复引起的余辉亮度测量误差，测试结果准确可靠。

基本信息

专利标题：

一种长余辉发光测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020147949.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-23

授权号：

CN211785125U

授权日：

2020-10-27

发明人：

孟建新谭晓晴黄利娟

申请人：

暨南大学

申请人地址：

广东省广州市天河区黄埔大道西601号

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司

代理人：

仵乐娟

优先权：

CN202020147949.5

主分类号：

G01N21/63

IPC分类号：

G01N21/63 G01N21/01