一种半圆柱型金属试样的轴线平面硬度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半圆柱型金属试样的轴线平面硬度测量装置，包括水平分布的硬度计测量平台(10)；硬度计测量平台的顶部，设置有试样支撑块(1)；试样支撑块位于硬度计压头(2)的正下方；试样支撑块的上部，具有横向分布的试样支撑槽(5)；试样支撑槽，用于放置需要测量轴线平面硬度的半圆柱型金属试样(20)；试样支撑块的上部中心位置，具有一个开口向上的盲孔(4)；盲孔内从上往下嵌入式安放有一个强力磁铁；强力磁铁的顶面，与半圆柱型金属试样的轮廓线相接触。本实用新型能够对半圆柱型金属试样进行可靠的吸附限位，保证试样的底面圆弧面受力均匀，可靠地对试样的轴线平面进行硬度测量，保证了测量的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种半圆柱型金属试样的轴线平面硬度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020158001.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-10
授权号 ：
CN212031130U
授权日 ：
2020-11-27
发明人 ：
孙伟张慧星董纪胡晓丽刘景华
申请人 ：
天津中德应用技术大学
申请人地址 ：
天津市津南区海河教育园区雅深路2号
代理机构 ：
天津市三利专利商标代理有限公司
代理人 ：
徐金生
优先权 ：
CN202020158001.X
主分类号 ：
G01N3/04
IPC分类号 ：
G01N3/04 G01N3/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
G01N3/04
夹具
法律状态
2020-11-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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