一种痕量气体分析设备的预处理系统
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摘要

本实用新型属于气体分析领域,具体涉及一种痕量气体分析设备的预处理系统,包括捕集阱a、捕集阱b、冷盘、真空仓、阀组、制冷系统与加热控制系统;所述捕集阱a与所述捕集阱b固定在所述冷盘上,所述捕集阱a和所述捕集阱b与所述冷盘位于所述真空仓内,所述冷盘与所述制冷系统相连,所述捕集阱a和所述捕集阱b通过气体管路分别与所述阀组相连,所述捕集阱a和所述捕集阱b通过导线分别与所述加热控制系统相连。本实用新型的痕量气体分析设备的预处理系统可实现样品气的富集、转移、吹扫、分离等目标,提高了痕量气体检测的精度。

基本信息
专利标题 :
一种痕量气体分析设备的预处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020161155.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-11
授权号 :
CN211602624U
授权日 :
2020-09-29
发明人 :
于海波汪子归郑小满胡运兴
申请人 :
华纳创新(北京)科技有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区实兴大街30号院17号楼7层31号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020161155.4
主分类号 :
G01N1/28
IPC分类号 :
G01N1/28  G01N1/40  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2020-09-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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