一种X射线衍射仪用粉末样品试片制备装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种X射线衍射仪用粉末样品试片制备装置,其包括:底板、可拆卸的设置在所述底板上方的样品片和压片器;所述底板的上表面设有第一卡位结构,所述样品片的下表面设有与所述第一卡位结构相适配的第二卡位结构;所述样品片上设有盛放粉末样品的样品槽,所述样品槽的侧壁上开设有用于插置插片且与所述样品片外表面连通的插槽;所述压片器底面的宽度与所述样品槽的宽度相适应,所述压片器用于在沿所述试片的长度方向移动时刮动压紧所述样品槽中的粉末样品。本实用新型结构简单,设计合理,使用方便,一方面在样品槽内放置样品时,操作更便捷,另一方面取出样品槽内样品时可有效地减少粉末样品对样品槽内壁的粘接。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射仪用粉末样品试片制备装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020166643.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-13
授权号 :
CN211505283U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
焦博新翟宇霄
申请人 :
焦博新
申请人地址 :
四川省成都市新都区新都大道8号西南石油大学
代理机构 :
石家庄德皓专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨瑞龙
优先权 :
CN202020166643.4
主分类号 :
G01N23/2005
IPC分类号 :
G01N23/2005  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/2005
粉末状样品制备
法律状态
2022-01-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/2005
申请日 : 20200213
授权公告日 : 20200915
终止日期 : 20210213
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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