一种场强计探头
授权
摘要
本实用新型涉及场强探测技术领域，公开了一种场强计探头，即一方面通过在波导电光调制片上设置光波导Y形分支、平行电极、锥形天线以及反射膜，可基于片状材质的电光效应，使在光波导Y形分支中两支路传输的光波产生与空间电场相关的相位差，并在经反射膜反射回至Y形分叉点时发生光波干涉效应，进而将光相位变化转换成光强度变化，实现空间电场信号在光波信号上的调制目的；另一方面通过空间几何关系设计，可利用三个不同的波导电光调制片来分别得到在x轴、y轴和z轴方向上的光电调制结果，完成三维全向的高性能电磁脉冲场测量，由此在整个探头结构中，可实现无源和长距离探测使用目的，并利于探头小型化设计，减小适用空间需求。
基本信息
专利标题 ：
一种场强计探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020180530.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-18
授权号 ：
CN211905526U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
孙豹彭勇林海宇张玉志
申请人 ：
成都信赛方兴测试技术有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区天全路200号2楼14层03号
代理机构 ：
成都顶峰专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
王霞
优先权 ：
CN202020180530.X
主分类号 ：
G01R29/08
IPC分类号 ：
G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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