一种聚合物电芯短路性能快速检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种聚合物电芯短路性能快速检测装置，包括基座，所述基座的顶部一侧固定连接有主体，所述基座的顶部固定连接有放置台，所述放置台的顶部两侧均固定连接有支杆，所述放置台的上方设有盖板，所述盖板的两端均滑动套接在支杆上，所述盖板上分别设有第一接线柱与第二接线柱，所述第一接线柱的底部设有探针，所述第二接线柱的底部设有金属板，所述第一接线柱与第二接线柱均通过导线与主体连接，所述基座的一侧固定连接有支撑杆，所述支撑杆的顶部固定连接有横板，本实用新型操作简单快捷，能够快速对生产线上的电芯进行短路检测，提高生产效率，实用性较高。
基本信息
专利标题 ：
一种聚合物电芯短路性能快速检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020207310.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-25
授权号 ：
CN211878147U
授权日 ：
2020-11-06
发明人 ：
蕫哲安彭文亮蕫明来林英李
申请人 ：
深圳市广维电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区平湖街道山夏社区罗山工业区A6栋厂房四楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020207310.1
主分类号 ：
G01R31/52
IPC分类号 ：
G01R31/52 G01R31/385 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/52
测试短路、泄漏电流或接地故障
法律状态
2020-11-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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