一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光辅助识别赫尔‑肖氏薄板中颗粒分布的装置，包括设置在密封摄影棚内的赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架，该玻片架上放置有赫尔‑肖氏盛颗粒玻片，该玻片的上下方分别设置有激光灯和CCD相机，激光灯可射出光束直径为30mm的红光点状激光平行光源，CCD相机的镜头冲向赫尔‑肖氏盛颗粒玻片，并连接至数据处理系统；赫尔‑肖氏盛颗粒玻片中的两玻片之间的距离可在0.5～3.0mm之间调节；数据处理系统包括安装在一台计算机中的Matlab和AlgolabPtVector软件，数据处理系统接收、记录和处理来自于CCD相机的数据，通过所识别图片上呈现的不同明暗程度来获得颗粒的薄厚程度，确定颗粒运动轨迹与侵蚀区域，用来观察赫尔‑肖氏薄板中后源侵蚀的发展过程。
基本信息
专利标题 ：
一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020208100.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-25
授权号 ：
CN212254980U
授权日 ：
2020-12-29
发明人 ：
郑刚王佳琳张天奇佟婧博朱锐王瑞坤
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市津南区海河教育园雅观路135号天津大学北洋园校区
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
李丽萍
优先权 ：
CN202020208100.4
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2020-12-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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