一种电解电容寿命快速检测设备
授权
摘要
一种电解电容寿命快速检测设备，包括测试电容TEST_C1、测试电容电路及与所述测试电容电路连接的显示控制电路；所述测试电容TEST_C1通过所述测试电容电路的较大的纹波电流，表现出不同的发热程度，最终导致防爆阀打开容量失效，测试的这段时间即为测试电容TEST_C1的快速测试寿命时间，且通过所述显示控制电路显示；本实用新型可实现快速检测电解电容使用寿命及检测电解电容动态参数的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种电解电容寿命快速检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020221106.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-27
授权号 ：
CN211785862U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
温坤张建治
申请人 ：
杭州明坤电器有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市下城区石祥路59号35号楼101室
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
林捷达
优先权 ：
CN202020221106.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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