GaN高温功能试验系统

授权

摘要

本实用新型公开了GaN高温功能试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，柜体底部四个角的位置设置柜脚，其特征在于：柜体中部设置操作台，操作台上方设置工业控制计算机，工业控制计算机上方横向并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机两侧均设置烘箱，烘箱下方设置电源，烘箱的数量为4个，工业控制计算机两侧分别纵向设置2个烘箱，同侧烘箱之间设置测试柜，操作台下方设置接线柜，本实用新型很好地解决了现有高温功能试验系统不能做不同温度下的参数试验的问题，对器件可靠性的检测也更加精确，同时，灵活性显著提升，实现了对不同器件或者参数的检测，有效地节约了成本。

基本信息

专利标题：

GaN高温功能试验系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020237307.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-02

授权号：

CN212321771U

授权日：

2021-01-08

发明人：

胡久恒

申请人：

杭州高坤电子科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市余杭区闲林街道裕丰路7号5号楼4层

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020237307.4

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R1/02 G01R1/04