一种存储产品的高低温试验的测试装置
授权
摘要
本实用新型揭示了一种存储产品的高低温试验的测试装置，应用于试验箱，试验箱侧壁具有凸起部，包括PCB板、第一支撑板、第二支撑板、第三支撑板、第一固定件、第二固定件和第三固定件。PCB板通过第一固定件连接第一支撑板；第三支撑板位于凸起部靠近侧壁的一端；第二支撑板与第三支撑板相对设置，位于凸起部远离侧壁的一端；第二支撑板一端通过第三固定件连接第三支撑板；PCB板、第一支撑板和第二支撑板通过第二固定件连接，形成一容置空间，且第二固定件位于第二支撑板远离第三固定件的一端。本方案不仅提高了测试人员的测试效率，数据线传输的数据信号稳定，且并无改变试验箱的原有结构，很好的保护了原有试验箱的结构，改造成本低。
基本信息
专利标题 ：
一种存储产品的高低温试验的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020244000.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-02
授权号 ：
CN212159861U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
李虎谭少鹏
申请人 ：
深圳市德明利技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园1栋A座2501、2401
代理机构 ：
深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
何兵
优先权 ：
CN202020244000.7
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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