测深仪的校准装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种测深仪的校准装置，包括下沉件及测量绳，下沉件设有间隔设置形成收纳结构的至少两个凸起，测量绳的一端与下沉件固定，且测量绳能够被收纳于收纳结构上，测量绳设有多个刻度标记。该测深仪的校准装置，便于携带，有利于提高校准深度。
基本信息
专利标题 ：
测深仪的校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020250859.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-04
授权号 ：
CN211527428U
授权日 ：
2020-09-18
发明人 ：
许子德柯彦曾祥峰江振飞
申请人 ：
中交华南勘察测绘科技有限公司;中交广州航道局有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区滨江中路362号三楼
代理机构 ：
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
李丹
优先权 ：
CN202020250859.9
主分类号 ：
G01C25/00
IPC分类号 ：
G01C25/00 G01C13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2020-09-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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