一种用于制备薄壁管材压平测织构试样的装置
专利权的终止
摘要

一种用于制备薄壁管材压平测织构试样的装置,所述装置由施压件、承载件、调节件和Gleeble热模拟试验机构成;施压件由施压端和压入端组成,施压端外侧与Gleeble热模拟试验机施压端压头接触,施压件通过调节件压扣在承载件上;承载件由载样台和长方形凹槽组成,载样台沿轴线剖开为U型结构,其内侧用于承载薄壁管材试样,外侧与Gleeble热模拟试验机受压端压头接触;调节件为功能性垫片,其上设置有一个沿厚度方向贯穿的长方形通孔。本实用新型具有结构简单、功能多样、易于操作、成本低和适用性广等优点,其技术方案规范合理,技术效果优良,具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。

基本信息
专利标题 :
一种用于制备薄壁管材压平测织构试样的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020255808.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-05
授权号 :
CN211927746U
授权日 :
2020-11-13
发明人 :
李阁平郭文斌张英东袁福森韩福洲穆罕默德·阿里任杰刘承泽顾恒飞马广财
申请人 :
中国科学院金属研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 :
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人 :
张晨
优先权 :
CN202020255808.5
主分类号 :
G01N23/2005
IPC分类号 :
G01N23/2005  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/2005
粉末状样品制备
法律状态
2022-02-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/2005
申请日 : 20200305
授权公告日 : 20201113
终止日期 : 20210305
2020-11-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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