一种检测模块结构
授权
摘要
本实用新型提供了一种检测模块结构，包括核心检测模块与检测模块底座；所述检测模块底座上具有一容纳所述核心检测模块的容纳槽；所述核心检测模块的第一侧面上设置有第一金属触点；所述检测模块底座的所述容纳槽内与所述核心检测模块的第一侧面相对应的第二侧面上与所述第一金属触点相对应处设置有第二金属触点；当所述核心检测模块嵌入所述检测模块底座时，所述第一金属触点与所述第二金属触点接触导通。通过本实用新型检测核心模块与底座的结构设计，有效地提高检测分析设备中核心检测模块更换环节的便利程度与电气连接的可靠性，提高操作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种检测模块结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020260533.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-05
授权号 ：
CN211552877U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
潘颉
申请人 ：
昌微系统科技(上海)有限公司
申请人地址 ：
上海市黄浦区思南路105号316室
代理机构 ：
北京大成律师事务所
代理人 ：
李佳铭
优先权 ：
CN202020260533.4
主分类号 ：
G01D11/00
IPC分类号 ：
G01D11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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