一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针
授权
摘要
本实用新型涉及医疗器械领域，具体涉及一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针。包括手柄、连接杆和探针段，探针段通过连接杆与手柄连接，在连接杆靠近手柄的一端设置有第一拐点，在连接杆靠近探针段的一端设置有第二拐点，探针段的末端表面设置有第一刻度线、第二刻度线和第三刻度线。本实用新型通过在探针的连接杆上设置两个拐点，提高上颌磨牙腭根探诊的精度和效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020279409.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-09
授权号 ：
CN211834848U
授权日 ：
2020-11-03
发明人 ：
陈斌周伟闫福华刘娟李丽丽
申请人 ：
南京市口腔医院
申请人地址 ：
江苏省南京市玄武区中央路30号
代理机构 ：
南京行高知识产权代理有限公司
代理人 ：
李晓
优先权 ：
CN202020279409.2
主分类号 ：
A61C19/04
IPC分类号 ：
A61C19/04
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61C
牙科；口腔或牙齿卫生的装置或方法
A61C19/00
牙科辅助用具
A61C19/04
专门适用于牙科的测量仪器
法律状态
2020-11-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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