一种操作方便的晶振检测治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种操作方便的晶振检测治具，包括台座、晶振底座、直线移动机构及探针检测机构，所述直线移动机构设于台座上，所述晶振底座设于直线移动机构上，所述探针检测机构分别设于直线移动机构两侧，所述晶振底座顶部设有若干放置晶振的沉槽，所述探针检测机构包括气缸、针座臂及若干探针。本实用新型将多个晶振放置在晶振底座上，利用直线移动机构将晶振移动到探针检测机构中，探针检测机构通过气缸的推动作用，将探针抵接在晶振的引脚上进行检测，检测完成一个晶振后，直线移动机构继续移动，将下一个晶振移至探针检测机构中继续检测，如此，当所有晶振检测完成后，只需更换下一批次晶振即可，操作方便，大大提高了晶振的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种操作方便的晶振检测治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020281979.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-09
授权号 ：
CN211626860U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
夏涛
申请人 ：
深圳市奥宇达电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道宏发科技园H3栋3楼
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
梁炎芳
优先权 ：
CN202020281979.5
主分类号 ：
G01M7/02
IPC分类号 ：
G01M7/02 G01H13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/02
•振动测试
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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