集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片
授权
摘要
一种集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片，基于电表的电能存储设备独立供电工作，实时时钟模块和其他模块都可以低功耗运行，其功率低，保证在交流电断电的时候，只有电能存储设备供电的情况下，还能通过MCU的开盖检测电路进行电表开盖检测；另外，上述的方法和电路通过检测开关检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件发生，设置预设规定可以避免干扰信号对开关检测引脚的误触发，记录错误的开盖或闭盖的事件，提高开盖检测的准确性。
基本信息
专利标题 ：
集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020301952.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-12
授权号 ：
CN212159910U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
曾培楷易文苗书立赵琮
申请人 ：
深圳市锐能微科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区深圳软件产业基地第5栋裙楼401、402室
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡鹏飞
优先权 ：
CN202020301952.8
主分类号 ：
G01R11/24
IPC分类号 ：
G01R11/24 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R11/00
用于测量电功率或电流的时间积分的机—电装置，例如测量消耗量的时间积分
G01R11/02
结构零部件
G01R11/24
用于避免或指示欺骗性使用的装置
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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