一种光学外罩检具
授权
摘要
本实用新型涉及一种光学外罩检具，具有底板，所述底板的前侧设置有L形定位板，所述L形定位板的左侧设置有圆形孔检测机构，所述圆形孔检测机构包括第一滑轨、第一滑块、圆形孔检测柱、限位凸起，所述底板的左侧设置有一字形定位板，所述底板的后侧设置有多个矩形孔检测机构，所述矩形孔检测机构包括安装板、矩形孔检测块、导杆、滑杆、弹簧和推块，所述底板的右侧设置有阶梯检测机构，所述阶梯检测机构包括第二滑轨、第二滑块、压紧螺钉和L形检测块。本实用新型的有益效果为：能够快速对光学外罩的矩形孔、圆形孔和阶梯处进行检测，检测效率高，准确性好。
基本信息
专利标题 ：
一种光学外罩检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020309235.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-13
授权号 ：
CN211717316U
授权日 ：
2020-10-20
发明人 ：
董红兵王晨皓马瞻覃杰董淑真魏金龙王文文
申请人 ：
苏州依泰诺精密机械有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区横泾街道尧南村六组
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020309235.X
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-10-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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