一种双探针的纳米测量仪器
授权
摘要
本实用新型公开了一种双探针的纳米测量仪器，包括测量器主体；所述测量器主体的前端设有第一探针、第二探针；所述第一探针用于探测外部环境干扰下的被测物体的信号；所述第二探针用于探测被测物体的附近环境的干扰信号；本实用新型的有益效果在于：本设计采用了双探针，一个探针探测外部环境干扰下的被测物体的信号，另一个探测被测物体的附近环境的干扰信号，通过计算出两个信号数值，最后两个数值相减，得到的数值就是被测物体的数值；让纳米测量系统省去了传统的封闭坏镜设备，且能够测量大型的被测物体。
基本信息
专利标题 ：
一种双探针的纳米测量仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020314207.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-13
授权号 ：
CN211477006U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
苏全民陈庚亮
申请人 ：
深圳明锐仪器有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙飞大道333号启迪协信4栋520
代理机构 ：
北京棘龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
戴丽伟
优先权 ：
CN202020314207.7
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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