一种光学检测设备用高精度中空玻璃旋转平台
授权
摘要
本实用新型涉及光学检测设备技术领域，具体涉及一种光学检测设备用高精度中空玻璃旋转平台，包括稳定台，稳定台的顶部中间固定有转轴，转轴的顶部转动连接有固定台，固定台内设有固定组件，转轴转动连接有两个滑轨，两个滑轨滑动连接有伸缩组件，伸缩组件的顶部设有探照灯，滑轨的底部对应稳定台边缘位置固定有限位块，限位块螺接有螺栓，螺栓伸入至限位块的内侧并固定有防滑块；本实用新型设置了探照灯，通过转动限位圈挤压调节杆从而灵活的调整探照灯的角度；通过转动滑轨可以带动探照灯围绕固定台调整位置，通过调整套杆在滑轨上的位置可以调节探照灯与待检测玻璃的距离，从而达到最佳的照明效果。
基本信息
专利标题 ：
一种光学检测设备用高精度中空玻璃旋转平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020334885.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-17
授权号 ：
CN211627399U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
严仕新
申请人 ：
苏州郡伟智能光学有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城中北区23幢综合楼214室
代理机构 ：
北京卓特专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
段宇
优先权 ：
CN202020334885.X
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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