排线测试系统
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摘要

一种排线测试系统,用于对排线进行测试,所述排线测试系统包括:固定装置,所述固定装置用于定位所述排线;波形夹具,所述波形夹具包括第一波形夹具及第二波形夹具,所述第一波形夹具包括第一波形结构,所述第二波形夹具与所述第一波形结构相对的一侧包括第二波形结构,所述第二波形结构与所述第一波形结构相适配,所述第二波形夹具与所述第一波形夹具配合来夹持所述排线;驱动装置,所述驱动装置用于驱动所述波形夹具运动来模拟排线的波形运动,可检测到排线的“暗短”及“暗断”。

基本信息
专利标题 :
排线测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020357870.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-19
授权号 :
CN212379436U
授权日 :
2021-01-19
发明人 :
刘松号
申请人 :
三赢科技(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华新区龙华油松第十工业区东环二路二号
代理机构 :
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 :
孙芬
优先权 :
CN202020357870.5
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/66  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-01-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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