一种CVD钻石光学流速计装置
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摘要

本实用新型公开了一种CVD钻石光学流速计装置,包括外壳、PCB线路板、单片机、处理器、运算模块、感应模块、CVD钻石导管、导流管、激光二极管、硅光电二极管和显示屏,所述PCB线路板设于外壳底部,所述单片机设于PCB线路板上,所述处理器设于PCB线路板上,所述运算模块设于PCB线路板上,所述感应模块设于PCB线路板上远离运算模块的一端,所述CVD钻石导管贯穿设于外壳上,所述导流管设于CVD钻石导管上,所述激光二极管设于CVD钻石导管底部,所述硅光电二极管设于CVD钻石导管顶部,所述显示屏设于外壳顶部。本实用新型属于流速测量技术领域,具体是指一种测量精度高,采用时间自相干函数运算,通过检测荧光强度扰动的CVD钻石光学流速计装置。

基本信息
专利标题 :
一种CVD钻石光学流速计装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020373797.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-23
授权号 :
CN211826128U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
刘宏明赵芬霞
申请人 :
湖州中芯半导体科技有限公司
申请人地址 :
浙江省湖州市吴兴区高新区中横港路33号2号厂房5号
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
许羽冬
优先权 :
CN202020373797.0
主分类号 :
G01P5/26
IPC分类号 :
G01P5/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01P
线速度或角速度、加速度、减速度或冲击的测量;运动的存在或不存在的指示;运动的方向的指示、传播时间或传播方向来测量固体物体的方向或速度入G01S;核辐射速度的测量入G01T)
G01P5/00
测量流体的速度,例如空气流;测量物体相对于流体的速度,例如船、航行器的速度
G01P5/26
通过测量流动中的流体对检测用光波性质的直接影响
法律状态
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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