共轨孔径自动测量设备

授权

摘要

本实用新型涉及精密测控技术领域，尤其涉及一种孔径测量设备。共轨孔径自动测量设备，包括工作台，工作台上设有测量台、测头机构，测头机构包括左右移动机构、上下移动机构和用于固定测头的固定机构，固定机构上固定有用于测量通孔孔径的测头；左右移动机构位于测量台的前方，测头位于共轨的上方。由于采用上述技术方案，本实用新型采用测量台和测头机构配合使用，可实现自动对共轨孔径进行测量的目的，测量速度快，测量精度高，大大降低了人工测量的工作强度。

基本信息

专利标题：

共轨孔径自动测量设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020391394.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-25

授权号：

CN211504071U

授权日：

2020-09-15

发明人：

张明乾廖建光

申请人：

平湖中精测控技术有限公司

申请人地址：

浙江省嘉兴市平湖经济开发区兴平一路758号内4幢一层

代理机构：

上海森华专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

姚维

优先权：

CN202020391394.9

主分类号：

G01B21/14

IPC分类号：

G01B21/14