一种FTIR测试的样片测试台
授权
摘要
本实用新型公开了一种FTIR测试的样片测试台。该种FTIR测试的样片测试台包括工作台；位移机构，位移机构安装于工作台；安装座，安装座安装于位移机构，安装座用于使样片定位；其中，位移机构用于驱动安装座沿直线运动。该种FTIR测试的样片测试台结构简单，通过安装座对样片进行定位、位移机构对样片位置进行调节，方便、简单的实现了对样片进行稳定夹持和位置调节的功能。
基本信息
专利标题 ：
一种FTIR测试的样片测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020394062.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-24
授权号 ：
CN212134490U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
周小勇邹健
申请人 ：
扬州合晶科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市经济技术开发区马泊河路6号
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
潘云峰
优先权 ：
CN202020394062.6
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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