基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置
授权
摘要
本实用新型提供基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置，主要涉及土壤重金属污染原位检测领域。基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置，包括与钻杆相连接的XRF装置与地面终端，所述XRF装置包括壳体、光学处理模块、信号处理模块、控制系统模块和电源电路模块，所述壳体侧面设置窗口，所述控制系统模块与信号处理模块、地面终端信号连接，所述电源电路模块与光学处理模块、信号处理模块、控制系统模块电连接。本实用新型的有益效果在于：本实用新型实现了直接推进式钻机在土壤钻进过程中土壤中重金属污染原位的实时检测，达到了“随钻随探”的目的。
基本信息
专利标题 ：
基于X射线荧光光谱分析的土壤重金属污染原位检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020426247.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-30
授权号 ：
CN212275634U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
黄莹徐民民李绍华尹业新聂溧高甫威王宁马涛马广翔刘剑顾俊杰李永霞孙博
申请人 ：
山东省环境保护科学研究设计院有限公司;南京贻润环境科技有限公司;山东省环科院环境工程有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市历下区历山路50号
代理机构 ：
济南尚本知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨宝根
优先权 ：
CN202020426247.0
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01T1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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