微研精密检具
授权
摘要
本实用新型公开了微研精密检具，包括安装台，所述安装台顶端一侧分别设置有检测台与安装块，所述安装块位于检测台后表面，所述安装块顶端设置有固定块，所述固定块一侧设置有第一连接块，所述固定块另一侧分别设置有拉柄，所述第一连接块一端以及固定块顶端一侧均位于拉柄内侧，所述固定块顶端另一侧设置有第二连接块，所述固定块顶端另一侧以及第一连接块另一端均位于第二连接块内侧；通过在检测台顶端内部加装压块，当需要对待检测产品进行检测时，先将待检测产品放入检测台顶端内部，然后推动拉柄，当压块底端压住待检测产品时，完成对待检测产品的固定，方便了检测人员固定待检测产品，提升了检测人员的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
微研精密检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020439431.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-31
授权号 ：
CN211926804U
授权日 ：
2020-11-13
发明人 ：
何耀舟
申请人 ：
昆山新越昌机械设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市玉山镇成功路199号A栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020439431.9
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2020-11-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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