一种基于磁纳米粒子的热物理参数测量系统
授权
摘要
本实用新型提出了一种基于磁纳米粒子的热物理参数测量系统，包括计算机和数据采集卡，计算机和数据采集卡相连接，所述数据采集卡分别与恒温控制模块、磁场激励模块和弱磁测量模块相连接，恒温控制模块与水槽相连接，水槽内设有盛放磁纳米粒子样品的样品试管，磁场激励模块与弱磁测量模块相连接，弱磁测量模块设置在样品试管的外侧。本实用新型克服了以往磁纳米粒子物理参数系统测量条件的单一性，无法准确测量动态参数相互耦合下的物理参数，可以实现多种磁场激励方式，变温环境下的多物理相互耦合状态下的物理参数准确测量，可以实现物理参数动态演绎，极大拓展了磁纳米粒子热物理参数动态特性的测量。
基本信息
专利标题 ：
一种基于磁纳米粒子的热物理参数测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020440220.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-31
授权号 ：
CN211697590U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
杜中州叶娜刘文中王丹丹苏日建甘勇李娜娜邹东尧金保华朱付保
申请人 ：
郑州轻工业大学
申请人地址 ：
河南省郑州市金水区东风路5号
代理机构 ：
郑州优盾知识产权代理有限公司
代理人 ：
栗改
优先权 ：
CN202020440220.7
主分类号 ：
G01N25/00
IPC分类号 ：
G01N25/00 G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
