一种核辐射测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种核辐射测量装置,包括用于探测核辐射并产生高频脉冲信号的核辐射探测器、用于将高频脉冲信号整形为方波信号的调理电路、用于计量方波信号脉冲数目并通过公式计算出核辐射强度的单片机,以及用于显示核辐射强度的显示单元。单片机中集成有用于计量方波信号脉冲数目的计数电路。核辐射探测器、调理电路、单片机和显示单元依次相连,公式为:151CPM=1uSv/h,其中,CPM表示信号脉冲数目,uSv/h表示辐射强度。本实用新型的核辐射测量装置通过调理电路,将高频电脉冲信号整形为一个有固定脉宽、幅值受限的方波信号,便于计数电路计数脉冲次数,可使极其微小且不稳定的辐射粒子产生的脉冲得以捕捉,从而可更精确地测量出周围环境核辐射剂量。
基本信息
专利标题 :
一种核辐射测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020472200.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN211905707U
授权日 :
2020-11-10
发明人 :
祁振杰
申请人 :
南京信息工程大学
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区宁六路219号
代理机构 :
南京钟山专利代理有限公司
代理人 :
苏良
优先权 :
CN202020472200.8
主分类号 :
G01T1/18
IPC分类号 :
G01T1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/18
用计数管装置,例如,用盖格计数器
法律状态
2020-11-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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