一种高度可调的自动额温测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种高度可调的自动额温测试装置，包括立柱、导轨、测温装置和底座，所述立柱设置在底座的上端，所述立柱上设有安装孔，安装孔上固定有导轨固定座，所述导轨固定在导轨固定座上，所述导轨为圆柱形结构，导轨上安装有滑块，滑块在导轨上上下移动，所述测温装置的背面安装有转接板，所述滑块的一侧固定在转接板上，所述测温装置上设有读卡区、显示屏、热释红外传感器及外接端口，外接端口为电源端口和USB端口，所述测温装置的内部设有识别模块、存储模块，通过上述设置，使得测试装置能根据测温人群的身高进行高度调节，方便对人群进行测温，大大提高了测温效率，同时还可以记录测温人员的信息，减少测温时人员之间的接触。
基本信息
专利标题 ：
一种高度可调的自动额温测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020474686.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-03
授权号 ：
CN211477418U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
杨晓东赵肖庆许可朱冉赵强先宋明飞施强强
申请人 ：
杭州微联智控科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区兴国路503号5幢505室
代理机构 ：
杭州广奥专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
尹建民
优先权 ：
CN202020474686.9
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G01J5/02 G01K13/00 G01K1/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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