一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置，包括工作底盘和设于工作底盘上的加热平台、温度测试数显探头和点屏控制装置，所述温度测试数显探头和点屏控制装置分别设于加热平台左右两侧，所述加热平台上放置待测液晶模组，所述点屏控制装置连接待测液晶模组，所述点屏控制装置上通过支架连接有光学测试探头，所述光学测试探头和温度测试数显探头设于待测液晶模组上方；本实用新型的液晶模组检测装置具有体积小、检测效率高和精度高等特点。
基本信息
专利标题 ：
一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020509523.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-09
授权号 ：
CN212135098U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
何卜岁
申请人 ：
星源电子科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区玉塘街道田寮第四工业区田富路26号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020509523.X
主分类号 ：
G02F1/13
IPC分类号 ：
G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的，例如单位液晶显示单元
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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