一种管屏焊口X射线探伤通用式调节支架
授权
摘要

本实用新型公开了一种管屏焊口X射线探伤通用式调节支架,包括主体,所述主体的两侧对称设置有支撑架,所述支撑架的横截面V字型结构,所述支撑架的顶端对应于主体的两侧设置有固定架,所述支撑架均由两部分组成,所述支撑架的两部分之间设置有连接块;通过设计的连接块、连接柱、连接槽、活动块,在原来的基础上,使探伤机在使用过程中,高度可进行整体调节,使探伤机与检测处的距离出现落差时,通过该调节方式使两者之间的距离拉近,从而使检测时显示的图像更加清晰,同时通过连接柱和连接槽,使连接块与支撑架之间可分离,便于该支架再不用时进行收纳,避免占用空间过大的现象,从而便于使用。

基本信息
专利标题 :
一种管屏焊口X射线探伤通用式调节支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020511001.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-09
授权号 :
CN212031332U
授权日 :
2020-11-27
发明人 :
乔小罗
申请人 :
南京英派克检测有限责任公司
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区中山科技园区内
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020511001.3
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2020-11-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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