一种用于金相试样的预制夹具
授权
摘要
本实用新型属于金相检测设备领域，公开了一种用于金相试样的预制夹具，包括：底座，底座上纵向垂直固定有支撑板，支撑板为等腰梯形，支撑板的上底角为45°，支撑板的下底与底座固定连接；支撑板的前侧横向开设有卡槽，卡槽内装配有盖板，盖板的两条腰与支撑板的两条腰分别重合；盖板的内侧横向开设有试样槽，试样槽用于装配金相试样；支撑板的左、右腰上交接有夹扣组件，夹扣组件用于将试样槽内的金相试样扭转成垂直立起的金相试样；该预制夹具结构简单，安装拆卸方便，成本低廉，制得的金相试样不倾斜，保证了金相磨面的垂直度，提高了制样质量，消除制样给实验分析以及图像采集带来的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种用于金相试样的预制夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020531358.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-13
授权号 ：
CN212059990U
授权日 ：
2020-12-01
发明人 ：
王奇刘颖波温斌常鹏雄康瑛刘飞
申请人 ：
西安泰力松新材料股份有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园创汇路25号
代理机构 ：
西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
包春菊
优先权 ：
CN202020531358.8
主分类号 ：
G01N23/2202
IPC分类号 ：
G01N23/2202 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2020-12-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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