一种过程信号校验仪

授权

摘要

本实用新型涉及过程信号校验仪技术领域，公开了一种过程信号校验仪，包括过程信号校验仪和密封罩；所述过程信号校验仪顶部设置有信号校验接口，所述过程信号校验仪顶部固定套有密封罩，所述密封罩顶部垂直固定粘接有套管，所述套管内腔设置有橡胶套，所述套管外壁上螺纹连接有限位套，所述套管内腔中部垂直滑动插入有信号校验接头，所述密封罩顶部垂直贯穿开设有连接孔。本实用新型避免了信号校验接头使用过程中与信号校验接口发生相对转动或移动，进而有效的提高了过程信号校验仪模拟信号传输的稳定性，从而可以有效的提高过程信号校验仪校准工作的准确性，且圆形瓣膜在本装置不使用时可以有效的避免灰尘进入信号校验接口内。

基本信息

专利标题：

一种过程信号校验仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020535701.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-13

授权号：

CN213067671U

授权日：

2021-04-27

发明人：

孙爱利

申请人：

华信仪器（北京）有限公司

申请人地址：

北京市昌平区科技园区创新路11号创业大厦九层901、902室

代理机构：

北京盛凡智荣知识产权代理有限公司

代理人：

邓凌云

优先权：

CN202020535701.6

主分类号：

G01D18/00

IPC分类号：

G01D18/00