一种用于α表面污染检测装置的传感器阵列置位复位电路
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于α表面污染检测装置的传感器阵列置位复位电路，通过对传感器的敏感元件施加一个瞬态的强恢复磁场使其恢复或保持其特性；所述置位复位电路包括流通截止单元、第一电容、第二电容以及电阻，所述流通截止单元与单片机相连，所述流通截止单元的各个漏极均连接至所述第二电容的第一端；所述流通截止单元的第一端接地，第二端和第四端连接单片机以接收单片机的时钟脉冲，第三端接RC串联振荡电路，所述流通截止单元的所述第五端、所述第六端、所述第七端和所述第八端分别连接至所述第二电容的第一端，所述第二电容的第二端设置S/R+接线端与传感器相连，所述置位复位电路的S/R+接线端连接至各个传感器的S/R+接线端。
基本信息
专利标题 ：
一种用于α表面污染检测装置的传感器阵列置位复位电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020544357.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-14
授权号 ：
CN212275988U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
宁静王琦纪云龙李大伟王晓宁
申请人 ：
中国人民解放军军事科学院军事医学研究院
申请人地址 ：
北京市海淀区太平路27号
代理机构 ：
北京智乾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
华冰
优先权 ：
CN202020544357.7
主分类号 ：
G01T1/169
IPC分类号 ：
G01T1/169 G01R33/09 H03K17/22
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/169
污染的表面面积的探查和定位
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212275988U.PDF
PDF下载
