一种用于测得弯曲差计算依据的测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种用于测得弯曲差计算依据的测量装置，涉及水准标尺检测技术领域，解决了现有技术中存在的不具有对环境要求不高的用于测量弯曲差计算依据的装置的技术问题。用于测得弯曲差计算依据的测量装置，包括一对支撑件，任一所述支撑件上均设置有搭设槽，且一对所述支撑件镜像对称设置于水准标尺两端；检测绳，其上靠近其两端部分分别搭设于一对相对设置的所述搭设槽；一对垂体，分别设置于所述检测绳两端；测距装置，能够测量位于一对所述支撑件之间的所述检测绳任一部位至水准标尺的垂直距离，本实用新型能够适用于多种环境下对水准标尺相关数据的测量，便于计算其弯曲差。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测得弯曲差计算依据的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020548527.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-14
授权号 ：
CN211783240U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
余红兵赵天祥
申请人 ：
余红兵
申请人地址 ：
河南省洛阳市西工区解放路24号院神剑花苑3栋1门1001室
代理机构 ：
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
韩国强
优先权 ：
CN202020548527.9
主分类号 ：
G01B5/20
IPC分类号 ：
G01B5/20 G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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