红外测温仪
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种红外测温仪，包括：探测模块，所述探测模块包括红外热成像电荷耦合器件；其中，所述红外热成像电荷耦合器件包括二维六角晶格型光子晶体结构的像素阵列。六角晶格型具有像元排列紧密的优势，通过验证，当把二维六角晶格型光子晶体结构的像素阵列应用于红外测温仪时，具有成像质量好、分辨率高等特。
基本信息
专利标题 ：
红外测温仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020549545.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-14
授权号 ：
CN212180108U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
代京京郝默雷王智勇兰天
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
张秀程
优先权 ：
CN202020549545.9
主分类号 ：
G01J5/12
IPC分类号 ：
G01J5/12 G01J5/14
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/12
用热电元件，例如热电偶
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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