一种射频同轴电缆三阶互调测试装置
授权
摘要
本申请涉及一种射频同轴电缆三阶互调测试装置，包括治具架组件和信号源组件，所述治具架组件包括架体、可上下移动的连接在所述架体上的平台(20)以及固定在所述平台(20)上的负载(30)，负载(30)上具有第一测试接口，所述信号源组件包括信号源(40)和若干上下层叠分布的无源模块(50)，无源模块(50)上具有第二测试接口，测试时，电缆(10)一端接插在一选定无源模块(50)上的所述第二测试接口，另一端接插在移动到与选定无源模块(50)相同高度的负载(30)上的所述第一测试接口。本实用新型射频同轴电缆三阶互调测试装置，根据不同测试频率对应测试模块，便于测试高度的调节，减少治具的更换时间，提高了测试准确度和测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种射频同轴电缆三阶互调测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020575305.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-17
授权号 ：
CN212540563U
授权日 ：
2021-02-12
发明人 ：
沈小平郭红彪沈伟康魏晶晶沈林林戴杰陈斌
申请人 ：
通鼎互联信息股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴江区震泽镇八都经济开发区小平大道8号
代理机构 ：
苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈瑞泷
优先权 ：
CN202020575305.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-02-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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